如何提高KDS石英晶體的抗裂性
來源:http://m.techzozo.com 作者:金洛鑫電子 2018年12月11
日本大真空株式會(huì)社,以下我們簡(jiǎn)稱KDS晶振,是日本一家知名的石英水晶組件供應(yīng)商,幾十年來在不斷的開發(fā)和生產(chǎn)當(dāng)中,總結(jié)并發(fā)現(xiàn)了許多晶體制造技術(shù),其中一種就是提升石英晶體的抗裂性。這種技術(shù)是為了防止當(dāng)晶振周圍溫度上升太高或下降太低時(shí),引發(fā)的裂開,容易在焊接時(shí)發(fā)生,通常應(yīng)用到車載產(chǎn)品身上的石英晶振,都要具備這一特性。
(1)背景
汽車音響,汽車導(dǎo)航,發(fā)動(dòng)機(jī)控制,TPMS(輪胎·壓力監(jiān)測(cè)系統(tǒng)),電動(dòng)車窗等各種石英晶體諧振器用于汽車電子設(shè)備。作為這些車載電子設(shè)備的環(huán)境測(cè)試,高溫到低溫重復(fù)測(cè)試(冷熱循環(huán)測(cè)試:進(jìn)行熱循環(huán)測(cè)試。特別是在發(fā)動(dòng)機(jī)控制,TPMS等惡劣環(huán)境下,與人類生活息息相關(guān)在非常嚴(yán)格的熱循環(huán)耐受條件下使用的晶體器件被施加。在印刷電路板上使用帶有焊料的石英晶體器件雖然安裝了,但是通過多次重復(fù)冷卻和加熱循環(huán)來焊接石英晶體器件和印刷電路板的焊料中出現(xiàn)裂縫的問題。
在本文中,我們將解釋焊接裂紋產(chǎn)生的機(jī)理以及如何處理它們,以及SMD晶振型陶瓷封裝產(chǎn)品,我將介紹在業(yè)界首次解決這一問題的大型真空晶體器件。
(2)焊料裂紋的發(fā)生機(jī)理
陶瓷封裝(下文稱封裝)和構(gòu)成晶體器件的印刷電路板之間的熱膨脹系數(shù)存在差異。高溫到低溫返回時(shí),由于熱膨脹系數(shù)不同,負(fù)載被施加到焊接部分,導(dǎo)致裂縫。在低溫下,發(fā)生在焊料的外周認(rèn)為裂縫通過反復(fù)的高/低溫進(jìn)行到內(nèi)部焊接。(圖①)
圖1:應(yīng)變發(fā)生時(shí)
(3)關(guān)于端子排列的焊接裂紋對(duì)策
我們將通過模擬石英晶振器件中形成的端子排列來驗(yàn)證哪種放置是最佳條件。為了驗(yàn)證應(yīng)力松弛和端子面積的影響,模擬以下列三種模式進(jìn)行。
<模擬結(jié)果>
②:應(yīng)力和裂紋傳播方向
結(jié)果表明裂紋從應(yīng)力最大點(diǎn)(紅色部分)向最小應(yīng)力部分(藍(lán)色部分)前進(jìn)并進(jìn)行。(圖②)各方轉(zhuǎn)彎的結(jié)果如下。
普通產(chǎn)品(4端子產(chǎn)品)···4個(gè)裂紋從包角部分到中心部分進(jìn)行。
2端子產(chǎn)品對(duì)面···裂紋從包角向中心前進(jìn)。
由于裂紋傳播距離與4端子產(chǎn)品相比在物理上延伸,因此,壽命(以下稱為焊接壽命)變長。
對(duì)角雙端產(chǎn)品···通過對(duì)角線布置,最小應(yīng)力部分從端子的長邊中心部分移位裂縫可以進(jìn)一步前進(jìn)的距離進(jìn)一步增加,并且焊料的壽命變得更長。
通過這些模擬,我們發(fā)現(xiàn)對(duì)角雙端子產(chǎn)品的焊接壽命最長。也就是說,當(dāng)終端區(qū)域相同時(shí),對(duì)角線端子排列可以說是焊接裂紋對(duì)策的最佳條件。
焊錫壽命:對(duì)角2端子產(chǎn)品>對(duì)面2端子產(chǎn)品>> 4端子產(chǎn)品
(4)凸塊形成的“焊接裂紋對(duì)策”
接下來,作為使焊料層更厚的手段,我們通過仿真驗(yàn)證了端子上的2端子和端子上的凸起的影響。
相對(duì)的2端子產(chǎn)品(沒有凸起)對(duì)面2端子產(chǎn)品(帶凸起)。
<模擬結(jié)果>
它顯示了施加到焊料部分的應(yīng)變分布圖(在焊料厚度方向上膨脹和收縮的變形)。(圖3)
焊料外周部分的高溫和低溫下的輪廓圖如下所示
*注)輪廓圖是輪廓線用顏色填充的圖
圖3:焊料外部零件在高溫和低溫下的失真分布
①在沒有凸起的情況下,晶振在低溫下發(fā)生裂縫的區(qū)域和在高溫下變形變大的區(qū)域彼此接近,因此開裂趨于發(fā)展。通過形成凸起,裂紋在高溫下進(jìn)展的方向不會(huì)成為直線,并且可以抑制裂紋發(fā)生后的進(jìn)展,它被認(rèn)為不是。
②從上述①的結(jié)果可以看出,當(dāng)有凹凸時(shí),它在裂紋擴(kuò)展方向上有一個(gè)角度(θ),因此難以向內(nèi)部前進(jìn).
結(jié)果證明了這一點(diǎn)。 此外,還確認(rèn)了外周部分的變形在高溫下變?yōu)樨?fù)(收縮),并且在端子部分處的凸起形成是,事實(shí)證明,它對(duì)預(yù)期壽命措施有影響。
(5)總結(jié)
石英晶體焊料裂縫是由封裝和印刷電路板的不同熱膨脹系數(shù)引起的變形引起的。作為模擬的結(jié)果,取決于終端布置。作為效果,當(dāng)端子對(duì)角布置時(shí),裂紋進(jìn)展的方向偏離長邊的中心部分,從而進(jìn)一步延長焊料壽命,事實(shí)證明。而且,在裂縫的情況下,當(dāng)應(yīng)變膨脹時(shí)裂縫將擴(kuò)散并進(jìn)展,但是如果形成凸起,則焊料外周的變形在高溫下變?yōu)樨?fù),裂縫不太可能進(jìn)行。另外,如果有凹凸,裂縫將進(jìn)入右下方。
在焊料破裂中成為問題的機(jī)械破損是由于封裝和印刷電路板的剝離而無法確保電連接朝這個(gè)方向前進(jìn)沒有任何效果。通過在端子處形成凸起,可以獲得這兩種效果和高耐熱循環(huán)性能,它將是一個(gè)產(chǎn)品。
如上所述,通過對(duì)角設(shè)置端子并形成凸塊,可以實(shí)現(xiàn)焊接裂紋對(duì)策。在我們公司,這個(gè)我們開發(fā)的石英貼片晶振首先是行業(yè)中的對(duì)策,現(xiàn)在提供3225尺寸和2016尺寸的晶體單元作為車載設(shè)備。
日本KDS晶振適用于汽車電子的型號(hào)有很多,這種被業(yè)界叫做車規(guī)晶振或者汽車級(jí)晶振,主要特征是耐高溫,耐惡劣環(huán)境,大部分是黑色陶瓷外殼,少部分是金屬面,工作溫度達(dá)到-40℃~100℃以上,常用的封裝尺寸是5032mm,3225mm和2520mm等貼片晶振,最主要的是要符合國際承認(rèn)的AEC-Q200汽車標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證。
(1)背景
汽車音響,汽車導(dǎo)航,發(fā)動(dòng)機(jī)控制,TPMS(輪胎·壓力監(jiān)測(cè)系統(tǒng)),電動(dòng)車窗等各種石英晶體諧振器用于汽車電子設(shè)備。作為這些車載電子設(shè)備的環(huán)境測(cè)試,高溫到低溫重復(fù)測(cè)試(冷熱循環(huán)測(cè)試:進(jìn)行熱循環(huán)測(cè)試。特別是在發(fā)動(dòng)機(jī)控制,TPMS等惡劣環(huán)境下,與人類生活息息相關(guān)在非常嚴(yán)格的熱循環(huán)耐受條件下使用的晶體器件被施加。在印刷電路板上使用帶有焊料的石英晶體器件雖然安裝了,但是通過多次重復(fù)冷卻和加熱循環(huán)來焊接石英晶體器件和印刷電路板的焊料中出現(xiàn)裂縫的問題。
在本文中,我們將解釋焊接裂紋產(chǎn)生的機(jī)理以及如何處理它們,以及SMD晶振型陶瓷封裝產(chǎn)品,我將介紹在業(yè)界首次解決這一問題的大型真空晶體器件。
(2)焊料裂紋的發(fā)生機(jī)理
陶瓷封裝(下文稱封裝)和構(gòu)成晶體器件的印刷電路板之間的熱膨脹系數(shù)存在差異。高溫到低溫返回時(shí),由于熱膨脹系數(shù)不同,負(fù)載被施加到焊接部分,導(dǎo)致裂縫。在低溫下,發(fā)生在焊料的外周認(rèn)為裂縫通過反復(fù)的高/低溫進(jìn)行到內(nèi)部焊接。(圖①)
圖1:應(yīng)變發(fā)生時(shí)
(3)關(guān)于端子排列的焊接裂紋對(duì)策
我們將通過模擬石英晶振器件中形成的端子排列來驗(yàn)證哪種放置是最佳條件。為了驗(yàn)證應(yīng)力松弛和端子面積的影響,模擬以下列三種模式進(jìn)行。
<模擬結(jié)果>
②:應(yīng)力和裂紋傳播方向
結(jié)果表明裂紋從應(yīng)力最大點(diǎn)(紅色部分)向最小應(yīng)力部分(藍(lán)色部分)前進(jìn)并進(jìn)行。(圖②)各方轉(zhuǎn)彎的結(jié)果如下。
普通產(chǎn)品(4端子產(chǎn)品)···4個(gè)裂紋從包角部分到中心部分進(jìn)行。
2端子產(chǎn)品對(duì)面···裂紋從包角向中心前進(jìn)。
由于裂紋傳播距離與4端子產(chǎn)品相比在物理上延伸,因此,壽命(以下稱為焊接壽命)變長。
對(duì)角雙端產(chǎn)品···通過對(duì)角線布置,最小應(yīng)力部分從端子的長邊中心部分移位裂縫可以進(jìn)一步前進(jìn)的距離進(jìn)一步增加,并且焊料的壽命變得更長。
通過這些模擬,我們發(fā)現(xiàn)對(duì)角雙端子產(chǎn)品的焊接壽命最長。也就是說,當(dāng)終端區(qū)域相同時(shí),對(duì)角線端子排列可以說是焊接裂紋對(duì)策的最佳條件。
焊錫壽命:對(duì)角2端子產(chǎn)品>對(duì)面2端子產(chǎn)品>> 4端子產(chǎn)品
(4)凸塊形成的“焊接裂紋對(duì)策”
接下來,作為使焊料層更厚的手段,我們通過仿真驗(yàn)證了端子上的2端子和端子上的凸起的影響。
相對(duì)的2端子產(chǎn)品(沒有凸起)對(duì)面2端子產(chǎn)品(帶凸起)。
<模擬結(jié)果>
它顯示了施加到焊料部分的應(yīng)變分布圖(在焊料厚度方向上膨脹和收縮的變形)。(圖3)
焊料外周部分的高溫和低溫下的輪廓圖如下所示
*注)輪廓圖是輪廓線用顏色填充的圖
圖3:焊料外部零件在高溫和低溫下的失真分布
①在沒有凸起的情況下,晶振在低溫下發(fā)生裂縫的區(qū)域和在高溫下變形變大的區(qū)域彼此接近,因此開裂趨于發(fā)展。通過形成凸起,裂紋在高溫下進(jìn)展的方向不會(huì)成為直線,并且可以抑制裂紋發(fā)生后的進(jìn)展,它被認(rèn)為不是。
②從上述①的結(jié)果可以看出,當(dāng)有凹凸時(shí),它在裂紋擴(kuò)展方向上有一個(gè)角度(θ),因此難以向內(nèi)部前進(jìn).
結(jié)果證明了這一點(diǎn)。 此外,還確認(rèn)了外周部分的變形在高溫下變?yōu)樨?fù)(收縮),并且在端子部分處的凸起形成是,事實(shí)證明,它對(duì)預(yù)期壽命措施有影響。
(5)總結(jié)
石英晶體焊料裂縫是由封裝和印刷電路板的不同熱膨脹系數(shù)引起的變形引起的。作為模擬的結(jié)果,取決于終端布置。作為效果,當(dāng)端子對(duì)角布置時(shí),裂紋進(jìn)展的方向偏離長邊的中心部分,從而進(jìn)一步延長焊料壽命,事實(shí)證明。而且,在裂縫的情況下,當(dāng)應(yīng)變膨脹時(shí)裂縫將擴(kuò)散并進(jìn)展,但是如果形成凸起,則焊料外周的變形在高溫下變?yōu)樨?fù),裂縫不太可能進(jìn)行。另外,如果有凹凸,裂縫將進(jìn)入右下方。
在焊料破裂中成為問題的機(jī)械破損是由于封裝和印刷電路板的剝離而無法確保電連接朝這個(gè)方向前進(jìn)沒有任何效果。通過在端子處形成凸起,可以獲得這兩種效果和高耐熱循環(huán)性能,它將是一個(gè)產(chǎn)品。
如上所述,通過對(duì)角設(shè)置端子并形成凸塊,可以實(shí)現(xiàn)焊接裂紋對(duì)策。在我們公司,這個(gè)我們開發(fā)的石英貼片晶振首先是行業(yè)中的對(duì)策,現(xiàn)在提供3225尺寸和2016尺寸的晶體單元作為車載設(shè)備。
日本KDS晶振適用于汽車電子的型號(hào)有很多,這種被業(yè)界叫做車規(guī)晶振或者汽車級(jí)晶振,主要特征是耐高溫,耐惡劣環(huán)境,大部分是黑色陶瓷外殼,少部分是金屬面,工作溫度達(dá)到-40℃~100℃以上,常用的封裝尺寸是5032mm,3225mm和2520mm等貼片晶振,最主要的是要符合國際承認(rèn)的AEC-Q200汽車標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證。
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